短波红外(SWIR)镜头
短波红外（SWIR）光一般定义为0.9－1.7μm波长范围内的光线，但也可归入0.7－2.5μm波长范围。由于硅传感器的上限约为1.0μm，SWIR成像需要能在SWIR范围内工作的独特组件。砷化铟镓（InGaAs）传感器是在SWIR中使用的主要传感器，可覆盖典型的SWIR频带，但可扩展低至550nm和高至2.5μm。 SWIR成像广泛用于各种不同的应用，包括电子板检查、太阳能电池检测、生产检查、识别与排序、监测、反假冒、过程质量控制等。要了解SWIR成像的优势，可考虑一些使用可见光和使用SWIR成像的普通日常用品的视觉范例。
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